[Eos-document] [eos - ドキュメント作成] Re: 【電子線トモグラフィー】ラフ・アラインメントの参照像について

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SourceForge Forum norep****@sourc*****
2014年 4月 21日 (月) 17:27:56 JST


このメールはSourceForge.JPのフォーラムからの自動転送です。
注意: このメールに返信しても単に無視されます。

フォーラムメッセージへの返信は以下のURLにアクセスしてください:
https://sourceforge.jp/projects/eos/forums/31695/35349/72733/

投稿者: Takuo Yasunaga (tacyas)

[メッセージ #72730 への返信]
> 以前に下記の回答を頂きました。
> 
> > > 3. ラフ・アラインメント
> > >  (Q)「単粒子解析」と同じ方法でよいでしょうか。
> 
> > 基本的な考え方は同じですが、角度がある程度最初から
わかっているか
> どうかが違いますので、問題は易しくなります。
> 
> 【質問内容】
> 「角度がある程度分かっている」ということは、最初に使
用する参照像は
> 電顕画像(2Dセット)からそのままmrc3Dto2D(フィルタ逆投影)を
使って3次元像を作ったものを使用するのでしょうか。


 このラフ・アラインメントは、角度の近い画像間の相関
により、異なる傾斜像が同じ傾斜軸(0度画像の中央(y
軸)を軸として仮定します)を共有するように平行移動す
ることを示しています。

つまり、2度刻みの画像を撮影した場合、
最初に0度を参照画像として、2度の画像の位置合わせ(
平行移動)を行います。
次は、位置合わせの終わった2度の画像と4度の画像を位
置合わせ(平行移動)を行います。最高角度までおわった
ら、つぎは、0度と−2度といった感じで合わせていきま
す。もう少しよいアルゴリズムもあり得ますが、まずは、
これが基本です。

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